Instrumentation Unit

The Instrumentation and Research Support Unit manages several pieces of equipment, which are placed at the service of the scientific community, to be used as means of study or analysis of samples sent by the different research groups of the UCLM, by other public and non-profit institutions or by companies.

The techniques currently available are as follows:

• Single-Crystal X-Ray Diffraction 
• X-Ray Reflectivity (Bruker D8 Advance)
• X-Ray Diffraction (Philips X' Pert Mpd and Bruker D8)
• X-Ray Fluorescence
• High Resolution Scanning Electron Microscopy (HRSEM-Gemini-500/EBSD/EDX/STEM/Ultramicrotome/Metalliser)
• DSC-TGA
• ATD-TG
• TGA-TA-50
• Raman Spectroscopy - Renishaw Invia
• DLS/Z-Potential
• Mass Spectrometry (Maldi-Tof-Tof-Tof- Bruker)
• Nuclear Magnetic Resonance (Rmn-Advance Neo 400 Mhz (Iprobe Probe) OR Rmn-Advance Neo 500 Mhz (Iprobe Probe))
• Magnetic Measurements (Squid High Resolution Magnetometer)
• UV-Vis-Nir Cary Series Spectrophotometer
• UV-Vis Uvikon-Xs / Fluorimeter Quantamaster Pti
• FT-IR-ATR Infrared
• Dilatometry
• Heating Microscopy
• BET (N2 Isotherm (25 Points))
• BET (Bet Multipoint Area (6 Points))
• Colour (Measurement with Colour Comparator Equipment)
• Sedigraph (Particle Size, 300-0.18 Μm)
• Accupyc (Solid Density)
• Sensory Laboratory

Service Management: Carlos Rivera Cabanillas

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

Equipment:

Surface analysis equipment model FleXPS. It performs measurements in ultra-high vacuum (UHV) and allows for elemental chemical analysis to depths of up to 5-10 nm, including the possibility of determining different oxidation states or species of each element. It features two X-ray anodes (Al Kα and Ag Lα) with a monochromator and an Ar ion gun for surface cleaning or depth analysis. Additionally, it includes an electron gun that facilitates the acquisition of spectra in insulating samples.

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

Equipment:

Surface analysis equipment model FleXPS. It performs measurements in ultra-high vacuum (UHV) and allows for elemental chemical analysis to depths of up to 5-10 nm, including the possibility of determining different oxidation states or species of each element. It features two X-ray anodes (Al Kα and Ag Lα) with a monochromator and an Ar ion gun for surface cleaning or depth analysis. Additionally, it includes an electron gun that facilitates the acquisition of spectra in insulating samples.

Equipo de diffraction para medida de polvo, sólidos, SAXS y alta temperatura. 

Ofrece la posibilidad de medidas, tanto en reflexión, con ópticas de haz divergente y de haz paralelo, como en transmisión, y medidas de temperatura (hasta 1100ºC)

Características:

• Configuración Theta – Theta.
• Tubo de rayos X: radiación Cu Kα
• Espejo Göbel para producir haz paralelo.
• Cámara de temperatura 
• Detector 0D puntual de centelleo.
• Detector 1D LynxEye XE-T.
• Software de análisis: EVA, LEPTOS.

 Difracción RX

EQUIPO:

Difractómetro de Rayos X, marca Philips (PANALYTICAL) modelo X´Pert MPD con radiación Cu KAlpha 1, rendija de divergencia automática, monocromador de grafito y detector proporcional sellado de gas xenón.

APLICACIONES:

• Identificación de fases cristalinas.

• Caracterización mineralógica.

• Detección de pureza de muestras.

           - Conocer el grado de avance de una reacción y la pureza del producto.

           - Identificación de impurezas, si son cristalinas.

• Estudio de sólidos amorfos. Proporción de amorfo en una muestra.

EQUIPO:

Reflectómetro de Rayos X BrukerD8 Advance

Equipo versátil para la medida de reflectividad de películas delgadas y multicapas

Permite determinar directamente el espesor de películas delgadas (hasta 100nm) si son suficientemente lisas y caracterizar su rugosidad superficial. También determina la estructura interna de multicapas.

Características:

• Configuración Theta – Theta.
• Tubo de rayos X: radiación Cu Kα
• Espejo Göbelpara producir haz paralelo.
• Portamuestras especial para medidas de reflectividad.
• Detector 0D puntual de centelleo.
• Detector 1D LynxEye.
• Software de análisis: EVA, LEPTOS.

EQUIPO:

Difractómetro de Rayos X de Monocristal X8 APEXII

El difractómetro X8 APEXII consta de un generador de RX con tubo de Mo (l= 0.71073Å) y detector de área. Equipado con un Bruker Kryoflex System permite realizar medidas a temperaturas por debajo de la ambiente.

El laboratorio está provisto de una línea de vacío-Nitrógeno para poder manejar muestras inestables al aire. 

EQUIPO:

Magnetómetro SQUID Quantum Design MPMS XL con EverCool

Equipo de medida de propiedades magnéticas (imanación, susceptibilidad AC) de altísima sensibilidad. Mediante el suministro de botellas de He gas mantiene automáticamente el sistema interior de He líquido permanentemente.

Características:

• Medidas hasta 5T.
• Rango de temperaturas: 2K a 400K.
• Sistema Evercool de licuefacción de Helio.
• Medidas DC y AC.

X-Ray Fluorescence

EQUIPO:

Espectrómetro de fluorescencia de RX, marca Philips (PANALYTICAL) , modelo Magix Pro, dispersivo de longitud de onda (tubo de rayos X con ánodo Rh, radiación KAlpha), secuencial, con un goniómetro simple basado en medidas de canal, cubriendo en el sistema periódico el rango desde el  Fluor en adelante.

APLICACIONES:

-Análisis elemental y reporte en forma de óxidos para el ajuste del oxígeno, en las aplicaciones semicuantitativa y cuantitativa.

• Análisis semicuantitativo de cualquier sustancia.

• Análisis cuantitativo. Aplicaciones para diferentes materiales:

-Sistemas compuestos mayoritariamente de sílice y alúmina (silicatos, arcillas, vidrios, cenizas volantes, escorias, …)

-Carbonatos.

-Yesos.

-Carbones.

-Análisis elemental  de trazas general.

 Infrarrojos

EQUIPO:

Marca Shimadzu modelo IRAffinity-1S, con lámpara de infrarrojos de banda de trabajo media, detector  DTGS Standard.

APLICACIONES:

-Medidas en transmisión.

-Medidas con dispositivo ATR de cristal de ZnSe.

 Maldi-TOF

EQUIPO:

Mass Spectrometry (MALDI TOF/TOF).